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光学参数如下:
材质:单晶硅
尺寸:边长2.38mm,厚度0.5mm
尺寸公差:±0.05mm
厚度公差:±0.05mm
光洁度:60/40
光学指标:
5.5-14um平均透过率≥78%
0.4-4.5um透过率T<1%
应用领域:红外探测器,红外测温,工业监测等
曲线如下: